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致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統(tǒng)
高速高精度
橫向、垂直和倒裝芯片
寬功率測試范圍(高達200 V/2A)
高達8英寸的晶片
Chroma巨型光電探測器

產(chǎn)品型號:58212-C
更新時間:2023-12-23
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:932
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品牌Chroma/致茂產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域電子

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致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統(tǒng)

主要特色:

  • 高速高精度
  • 橫向、垂直和倒裝芯片
  • 寬功率測試范圍(高達200 V/2A)
  • 高達8英寸的晶片
  • Chroma巨型光電探測器
  • *邊緣傳感器
  • 探針頭
  • 魯棒Z軸級
  • 晶片映射算法
  • 外遮光罩
  • 分析工具和統(tǒng)計報告

測試項目

  • 電參數(shù):
    -正向電壓測量(VF)
    -反向擊穿電壓測量(VRB)
    -反向泄漏電流
    -SCR檢測
  • 光學(xué)參數(shù):
    光功率(mW,lm,mcd)
    -主導(dǎo)波長(WD)
    -峰值波長(WP)
    -半高寬(半高寬)
    -CIExy-CCT-CRI

Chroma 58212-C具有自動LED晶片/芯片探針測試儀,提供快速和準確的LED測量,測試次數(shù)少于125 ms*1。

該系統(tǒng)可以修改,以支持不同的LED結(jié)構(gòu),包括橫向,垂直,和倒裝芯片設(shè)計。集成掃描儀提供獨立的晶片映射,以保證精確測試。探頭頭防止設(shè)備劃傷,并確保與每個LED固體接觸。

Chroma*的設(shè)計獲得并分析了光學(xué)數(shù)據(jù),如主導(dǎo)波長、峰值波長和CCT。此外,它還提供了基本的電氣數(shù)據(jù),如正向電壓、泄漏電流和反向擊穿電壓,都是在一步測試中完成的。

58212-C包括一個用戶友好的圖形界面和*邏輯算法,以顯著提高生產(chǎn)效率.綜合統(tǒng)計報告和分析工具便于控制和批量生產(chǎn)管理。

注:1:試驗條件:在300μm樣品瀝青下,5個電測試參數(shù)和1個光學(xué)參數(shù)。由于LED特性的不同,測量結(jié)果可能會有所不同。

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模型描述詢價
58212-CLED測圖探針測試儀

致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統(tǒng)

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